probed by resonant inelastic x-ray scattering

Chen, J. M.; Lee, J. M.; Huang, S. W.; Lu, K. T.; Jeng, H. T.; Chen, C. K.; Haw, S. C.; Chou, T. L.; Chen, S. A.; Hiraoka, N.; Ishii, H.; Tsuei, K. D.; Yang, T. J.

期刊名称Physical Review B
作者Chen, J. M.; Lee, J. M.; Huang, S. W.; Lu, K. T.; Jeng, H. T.; Chen, C. K.; Haw, S. C.; Chou, T. L.; Chen, S. A.; Hiraoka, N.; Ishii, H.; Tsuei, K. D.; Yang, T. J.
卷第82卷
期第9期
印刷ISSN1098-0121
电子ISSN1550-235X
文件大小1018.93KB
发表时间2010-9-27
DOI10.1103/physrevb.82.094442

发现好书期刊，享受阅读乐趣

probed by resonant inelastic x-ray scattering