Progress in Noise Thermometry at 505 K and 693 K Using Quantized Voltage Noise Ratio Spectra

• 作者W. L. Tew; S. P. Benz; P. D. Dresselhaus; K. J. Coakley; H. Rogalla; D. R. White; J. R. Labenski
• 卷第31卷
• 印刷ISSN0195-928X
• 电子ISSN1572-9567
• 文件大小421.10KB
• 发表时间2010-09
• DOI10.1007/s10765-010-0830-9
• 页码1719-1738