Effects of fin width on memory windows in FinFET ZRAMs

E.X. Zhang; D.M. Fleetwood; M.L. Alles; R.D. Schrimpf; F.E. Mamouni; W. Xiong; S. Cristoloveanu

作者E.X. Zhang; D.M. Fleetwood; M.L. Alles; R.D. Schrimpf; F.E. Mamouni; W. Xiong; S. Cristoloveanu
卷第54卷
期第10期
印刷ISSN0038-1101
文件大小584.26KB
发表时间2010
DOI10.1016/j.sse.2010.05.012
页码1155-1159

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