[IEEE 2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Washington, DC, USA (2011.12.5-2011.12.7)] 2011 International Electron Devices Meeting -
Vullers, R.J.M.; van Schaijk, R.; Goedbloed, M.; Elfrink, R.; Wang, Z.; Van Hoof, C.
- 作者Vullers, R.J.M.; van Schaijk, R.; Goedbloed, M.; Elfrink, R.; Wang, Z.; Van Hoof, C.
- 文件大小378.30KB
- 发表时间2011
- DOI10.1109/iedm.2011.6131526