Methods of Handling the Tolerance and Test-Point Selection Problem for Analog-Circuit Fault Diagnosis

• 作者Chenglin Yang; Shulin Tian; Bing Long; Fang Chen
• 卷第60卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0018-9456
• 电子ISSN1557-9662
• 文件大小793.05KB
• 发表时间2011
• DOI10.1109/tim.2010.2050356
• 页码176-185