Time-frequency analysis for microwave reflectometry data processing in the HL-2A tokamak
Zhong, W. L.; Shi, Z. B.; Zou, X. L.; Ding, X. T.; Huang, X. L.; Dong, Y. B.; Liu, Z. T.; Xiao, W. W.; Ji, X. Q.; Cui, Z. Y.; Liu, Yi; Yan, L. W.; Yang, Q. W.; Duan, X. R.
- 期刊名称Review of Scientific Instruments
- 作者Zhong, W. L.; Shi, Z. B.; Zou, X. L.; Ding, X. T.; Huang, X. L.; Dong, Y. B.; Liu, Z. T.; Xiao, W. W.; Ji, X. Q.; Cui, Z. Y.; Liu, Yi; Yan, L. W.; Yang, Q. W.; Duan, X. R.
- 卷第82卷
- 期第10期
- 印刷ISSN0034-6748
- 文件大小1684.89KB
- 发表时间2011
- DOI10.1063/1.3657157