Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling

• 作者Petr Bábor; Radek Duda; Stanislav Průša; Tomáš Matlocha; Miroslav Kolíbal; Jan Čechal; Michal Urbánek; Tomáš Šikola
• 卷第269卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0168-583X
• 文件大小909.35KB
• 发表时间2011
• DOI10.1016/j.nimb.2010.11.087
• 页码369-373