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Recovering behavior of JFET transistors after gamma ray irradiation

Recovering behavior of JFET transistors after gamma ray irradiation

J. Assaf
  • 作者J. Assaf
  • 卷第80卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0969-806X
  • 文件大小344.77KB
  • 发表时间2011
  • DOI10.1016/j.radphyschem.2010.09.016
  • 页码491-495
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