High quality AlGaN epilayers grown on sapphire using SiNx interlayers

K. Forghani; M. Klein; F. Lipski; S. Schwaiger; J. Hertkorn; R.A.R. Leute; F. Scholz; M. Feneberg; B. Neuschl; K. Thonke; O. Klein; U. Kaiser; R. Gutt; T. Passow

作者K. Forghani; M. Klein; F. Lipski; S. Schwaiger; J. Hertkorn; R.A.R. Leute; F. Scholz; M. Feneberg; B. Neuschl; K. Thonke; O. Klein; U. Kaiser; R. Gutt; T. Passow
卷第315卷
期第1期
印刷ISSN0022-0248
文件大小826.44KB
发表时间2011
DOI10.1016/j.jcrysgro.2010.08.044
页码216-219

发现好书期刊，享受阅读乐趣

High quality AlGaN epilayers grown on sapphire using SiNx interlayers