Xenon purity analysis for EXO-200 via mass spectrometry
A. Dobi; C. Hall; S. Slutsky; Y.-R. Yen; B. Aharmin; M. Auger; P.S. Barbeau; C. Benitez-Medina; M. Breidenbach; B. Cleveland; R. Conley; J. Cook; S. Cook; I. Counts; W. Craddock; T. Daniels; C.G. Davis; J. Davis; R. deVoe; M. Dixit; M.J. Dolinski; K. Donato; W. Fairbank Jr.; J. Farine; P. Fierlinger; D. Franco; G. Giroux; R. Gornea; K. Graham; G. Gratta; C. Green; C. Hagemann; K. Hall; D. Hallman; C. Hargrove; S. Herrin; M. Hughes; J. Hodgson; F. Juget; A. Karelin; L.J. Kaufman; A. Kuchenkov; K. Kumar; D.S. Leonard; G. Lutter; D. Mackay; R. MacLellan; M. Marino; B. Mong; M. Montero Díez; P. Morgan; A.R. Müller; R. Neilson; A. Odian; K. O'Sullivan; A. Piepke; A. Pocar; C.Y. Prescott; K. Pushkin; A. Rivas; E. Rollin; P.C. Rowson; A. Sabourov; D. Sinclair; K. Skarpaas; V. Stekhanov; V. Strickland; M. Swift; K. Twelker; J.-L. Vuilleumier; J.-M. Vuilleumier; M. Weber; U. Wichoski; J. Wodin; J.D. Wright; L. Yang
- 作者A. Dobi; C. Hall; S. Slutsky; Y.-R. Yen; B. Aharmin; M. Auger; P.S. Barbeau; C. Benitez-Medina; M. Breidenbach; B. Cleveland; R. Conley; J. Cook; S. Cook; I. Counts; W. Craddock; T. Daniels; C.G. Davis; J. Davis; R. deVoe; M. Dixit; M.J. Dolinski; K. Donato; W. Fairbank Jr.; J. Farine; P. Fierlinger; D. Franco; G. Giroux; R. Gornea; K. Graham; G. Gratta; C. Green; C. Hagemann; K. Hall; D. Hallman; C. Hargrove; S. Herrin; M. Hughes; J. Hodgson; F. Juget; A. Karelin; L.J. Kaufman; A. Kuchenkov; K. Kumar; D.S. Leonard; G. Lutter; D. Mackay; R. MacLellan; M. Marino; B. Mong; M. Montero Díez; P. Morgan; A.R. Müller; R. Neilson; A. Odian; K. O'Sullivan; A. Piepke; A. Pocar; C.Y. Prescott; K. Pushkin; A. Rivas; E. Rollin; P.C. Rowson; A. Sabourov; D. Sinclair; K. Skarpaas; V. Stekhanov; V. Strickland; M. Swift; K. Twelker; J.-L. Vuilleumier; J.-M. Vuilleumier; M. Weber; U. Wichoski; J. Wodin; J.D. Wright; L. Yang
- 卷第675卷
- 印刷ISSN0168-9002
- 文件大小440.42KB
- 发表时间2012
- DOI10.1016/j.nima.2012.01.066
- 页码40-46