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Influence of Gate Corrugations on the Performance of Thin-Film Transistors

Influence of Gate Corrugations on the Performance of Thin-Film Transistors

Sambandan, Sanjiv
  • 期刊名称IEEE Electron Device Letters
  • 作者Sambandan, Sanjiv
  • 卷第33卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0741-3106
  • 电子ISSN1558-0563
  • 文件大小461.23KB
  • 发表时间2012-01
  • DOI10.1109/led.2011.2172675
  • 页码56-58
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