发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Effectiveness of frequency mapping on 28 nm device broken scan chain failures

S. H. Goh; Y. Pan; G. F. You; Y. H. Chan; H. Ran; T. Herrman; T. Heller; V. S. K. Lim; Z. H. Mai; J. Lam; C. M. Chua; W. P. Chua; S. H. Tan

作者S. H. Goh; Y. Pan; G. F. You; Y. H. Chan; H. Ran; T. Herrman; T. Heller; V. S. K. Lim; Z. H. Mai; J. Lam; C. M. Chua; W. P. Chua; S. H. Tan
文件大小1694.00KB
发表时间2012
DOI10.1063/1.3680584