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Takeda, Kazuhisa; Tanaka, Kuniya; Kumamoto, Takafumi; Nojiri, Kazunori; Mori, Ryutaro; Taniguchi, Koichi; Matsuyama, Ryusei; Kato, Hideaki; Endo, Itaru
  • 期刊名称Journal of Electronic Testing
  • 作者Takeda, Kazuhisa; Tanaka, Kuniya; Kumamoto, Takafumi; Nojiri, Kazunori; Mori, Ryutaro; Taniguchi, Koichi; Matsuyama, Ryusei; Kato, Hideaki; Endo, Itaru
  • 卷第29卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小207.96KB
  • 发表时间2013-10
  • DOI10.1007/s10836-013-5412-x
  • 页码619-620
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