RFID Test Platform: Nonlinear Characterization

• 期刊名称IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
• 作者Andia Vera, Gianfranco; Duroc, Yvan; Tedjini, Smail
• 卷第63卷
• 期第9期
• 印刷ISSN0018-9456
• 电子ISSN1557-9662
• 文件大小3425.45KB
• 发表时间2014-9
• DOI10.1109/TIM.2014.2307754
• 页码2299-2305