Performance of amplicon-based next generation DNA sequencing for diagnostic gene mutation profiling in oncopathology

Sie, Daoud; Snijders, Peter J.F.; Meijer, Gerrit A.; Doeleman, Marije W.; van Moorsel, Marinda I. H.; van Essen, Hendrik F.; Eijk, Paul P.; Grünberg, Katrien; van Grieken, Nicole C. T.; Thunnissen, Erik; Verheul, Henk M.; Smit, Egbert F.; Ylstra, Bauke; Heideman, Daniëlle A. M.

期刊名称Cellular Oncology
作者Sie, Daoud; Snijders, Peter J.F.; Meijer, Gerrit A.; Doeleman, Marije W.; van Moorsel, Marinda I. H.; van Essen, Hendrik F.; Eijk, Paul P.; Grünberg, Katrien; van Grieken, Nicole C. T.; Thunnissen, Erik; Verheul, Henk M.; Smit, Egbert F.; Ylstra, Bauke; Heideman, Daniëlle A. M.
卷第37卷
期第5期
印刷ISSN2211-3428
电子ISSN2211-3436
文件大小734.69KB
发表时间2014-10
DOI10.1007/s13402-014-0196-2
页码353-361

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Performance of amplicon-based next generation DNA sequencing for diagnostic gene mutation profiling in oncopathology