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Atomic force microscopy deep trench and sidewall imaging with an optical fiber probe

Atomic force microscopy deep trench and sidewall imaging with an optical fiber probe

Xie, Hui; Hussain, Danish; Yang, Feng; Sun, Lining
  • 期刊名称Review of Scientific Instruments
  • 作者Xie, Hui; Hussain, Danish; Yang, Feng; Sun, Lining
  • 卷第85卷
  • 期第12期
  • 印刷ISSN0034-6748
  • 电子ISSN1089-7623
  • 文件大小2335.91KB
  • 发表时间2014-12
  • DOI10.1063/1.4903466
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