发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Study of Random Telegraph Noise in UTBOX Silicon-on-Insulator nMOSFETs

Li, C. K.; Fang, W.; Simoen, E.; Aoulaiche, M.; Wu, Y. R.; Luo, J.; Zhao, C.; Claeys, C.

期刊名称ECS Transactions
作者Li, C. K.; Fang, W.; Simoen, E.; Aoulaiche, M.; Wu, Y. R.; Luo, J.; Zhao, C.; Claeys, C.
卷第60卷
期第1期
印刷ISSN1938-6737
电子ISSN1938-5862
文件大小220.59KB
发表时间2014-02-27
DOI10.1149/06001.0109ecst
页码109-114