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Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung

Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung

Tereschenko, Stanislav; Kühnhold, Peter; Lehmann, Peter; Zellmer, Lisa; Brückner-Foit, Angelika
  • 期刊名称tm - Technisches Messen
  • 作者Tereschenko, Stanislav; Kühnhold, Peter; Lehmann, Peter; Zellmer, Lisa; Brückner-Foit, Angelika
  • 卷第81卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN0171-8096
  • 电子ISSN2196-7113
  • 文件大小1016.94KB
  • 发表时间2014-01-28
  • DOI10.1515/teme-2014-0408
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