X-ray Mapping and Chemical Phase Mapping with an Amptek SDD

• 期刊名称Microscopy and Microanalysis
• 作者Moran, L.; Moran, K.; Wuhrer, R.
• 卷第20卷
• 印刷ISSN1431-9276
• 电子ISSN1435-8115
• 文件大小1873.36KB
• 发表时间2014-08
• DOI10.1017/s143192761400511x
• 页码678-679