![and precision measurement of]()
and precision measurement ofAnastassov, A.; Eckhart, E.; Gan, K. K.; Gwon, C.; Hart, T.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pedlar, T. K.; Thayer, J. B.; Toerne, E. von; Zoeller, M. M.; Richichi, S. J.; Severini, H.; Skubic, P.; Undrus, A.; Savinov, V.; Chen, S.; Hinson, J. W.; Lee, J.; Miller, D. H.; Shibata, E. I.; Shipsey, I. P. J.; Pavlunin, V.; Cronin-Hennessy, D.; Lyon, A. L.; Park, W.; Thorndike, E. H.; Coan, T. E.; Gao, Y. S.; Maravin, Y.; Narsky, I.; Stroynowski, R.; Ye, J.; Wlodek, T.; Artuso, M.; Benslama, K.; Boulahouache, C.; Bukin, K.; Dambasuren, E.; Majumder, G.; Mountain, R.; Skwarnicki, T.; Stone, S.; Wang, J. C.; Wolf, A.; Kopp, S.; Kostin, M.; Mahmood, A. H.; Csorna, S. E.; Danko, I.; Jain, V.; McLean, K. W.; Xu, Z.; Godang, R.; Bonvicini, G.; Cinabro, D.; Dubrovin, M.; McGee, S.; Bornheim, A.; Lipeles, E.; Pappas, S. P.; Shapiro, A.; Sun, W. M.; Weinstein, A. J.; Jaffe, D. E.; Mahapatra, R.; Masek, G.; Paar, H. P.; Eppich, A.; Hill, T. S.; Morrison, R. J.; Nelson, H. N.; Briere, R. A.; Chen, G. P.; Ferguson, T.; Vogel, H.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berger, B. E.; Berkelman, K.; Blanc, F.; Boisvert, V.; Cassel, D. G.; Drell, P. S.; Duboscq, J. E.; Ecklund, K. M.; Ehrlich, R.; Gaidarev, P.; Gibbons, L.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Hsu, L.; Jones, C. D.; Kandaswamy, J.; Kreinick, D. L.; Lohner, M.; Magerkurth, A.; Mahlke-Krüger, H.; Meyer, T. O.; Mistry, N. B.; Nordberg, E.; Palmer, M.; Patterson, J. R.; Peterson, D.; Riley, D.; Romano, A.; Schwarthoff, H.; Thayer, J. G.; Urner, D.; Valant-Spaight, B.; Viehhauser, G.; Warburton, A.; Avery, P.; Prescott, C.; Rubiera, A. I.; Stoeck, H.; Yelton, J.; Brandenburg, G.; Ershov, A.; Kim, D. Y.-J.; Wilson, R.; Eisenstein, B. I.; Ernst, J.; Gladding, G. E.; Gollin, G. D.; Hans, R. M.; Johnson, E.; Karliner, I.; Marsh, M. A.; Plager, C.; Sedlack, C.; Selen, M.; Thaler, J. J.; Williams, J.; Edwards, K. W.; Sadoff, A. J.; Ammar, R.; Bean, A.; Besson, D.; Zhao, X.; Anderson, S.; Frolov, V · Physical Review D · 2002