Test Technology TC Newsletter
- 期刊名称IEEE Design & Test
- 作者Theocharides, Theo
- 卷第32卷
- 期第5期
- 印刷ISSN2168-2356
- 电子ISSN2168-2364
- 文件大小117.76KB
- 发表时间2015-10
- DOI10.1109/mdat.2015.2466151
- 页码115-116
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