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The exploration of the effect of microstructure on crackling noise systems

The exploration of the effect of microstructure on crackling noise systems

Faran, Eilon; Salje, Ekhard K. H.; Shilo, Doron

期刊名称Applied Physics Letters
作者Faran, Eilon; Salje, Ekhard K. H.; Shilo, Doron
卷第107卷
期第7期
印刷ISSN0003-6951
电子ISSN1077-3118
文件大小543.03KB
发表时间2015-08-17
DOI10.1063/1.4928928

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