Characterization of TiAl diffusion bonds using Ni/Ti nanolayers
Simões, Sónia; Viana, Filomena; Ramos, Ana Sofia; Vieira, Maria Teresa; Vieira, Manuel F.
- 期刊名称Microscopy and Microanalysis
- 作者Simões, Sónia; Viana, Filomena; Ramos, Ana Sofia; Vieira, Maria Teresa; Vieira, Manuel F.
- 卷第22卷
- 印刷ISSN1431-9276
- 电子ISSN1435-8115
- 文件大小1103.10KB
- 发表时间2016-03
- DOI10.1017/s1431927616000465
- 页码54-55