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<i>In situ</i>
              core-level and valence-band photoelectron spectroscopy of reactively sputtered tungsten oxide films

In situ core-level and valence-band photoelectron spectroscopy of reactively sputtered tungsten oxide films

Bouvard, O.; Krammer, A.; Schüler, A.
  • 期刊名称Surface and Interface Analysis
  • 作者Bouvard, O.; Krammer, A.; Schüler, A.
  • 卷第48卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN0142-2421
  • 文件大小721.58KB
  • 发表时间2016-07
  • DOI10.1002/sia.5927
  • 页码660-663
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