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Reproducibility of the cutoff probe for the measurement of electron density

Kim, D. W.; You, S. J.; Kwon, J. H.; You, K. H.; Seo, B. H.; Kim, J. H.; Yoon, J.-S.; Oh, W. Y.

期刊名称Physics of Plasmas
作者Kim, D. W.; You, S. J.; Kwon, J. H.; You, K. H.; Seo, B. H.; Kim, J. H.; Yoon, J.-S.; Oh, W. Y.
卷第23卷
期第6期
印刷ISSN1070-664X
电子ISSN1089-7674
文件大小1130.83KB
发表时间2016-06
DOI10.1063/1.4947222