Particle alignment reliability in single particle electron cryomicroscopy: a general approach
Vargas, J.; Otón, J.; Marabini, R.; Carazo, J. M.; Sorzano, C. O. S.
- 期刊名称Scientific Reports
- 作者Vargas, J.; Otón, J.; Marabini, R.; Carazo, J. M.; Sorzano, C. O. S.
- 卷第6卷
- 期第1期
- 电子ISSN2045-2322
- 文件大小1810.19KB
- 发表时间2016-4
- DOI10.1038/srep21626