Pion contamination in the MICE muon beam

Adams, D.; Alekou, A.; Apollonio, M.; Asfandiyarov, R.; Barber, G.; Barclay, P.; de Bari, A.; Bayes, R.; Bayliss, V.; Bertoni, R.; Blackmore, V.J.; Blondel, A.; Blot, S.; Bogomilov, M.; Bonesini, M.; Booth, C.N.; Bowring, D.; Boyd, S.; Brashaw, T.W.; Bravar, U.; Bross, A.D.; Capponi, M.; Carlisle, T.; Cecchet, G.; Charnley, C.; Chignoli, F.; Cline, D.; Cobb, J.H.; Colling, G.; Collomb, N.; Coney, L.; Cooke, P.; Courthold, M.; Cremaldi, L.M.; DeMello, A.; Dick, A.; Dobbs, A.; Dornan, P.; Drews, M.; Drielsma, F.; Filthaut, F.; Fitzpatrick, T.; Franchini, P.; Francis, V.; Fry, L.; Gallagher, A.; Gamet, R.; Gardener, R.; Gourlay, S.; Grant, A.; Greis, J.R.; Griffiths, S.; Hanlet, P.; Hansen, O.M.; Hanson, G.G.; Hart, T.L.; Hartnett, T.; Hayler, T.; Heidt, C.; Hills, M.; Hodgson, P.; Hunt, C.; Iaciofano, A.; Ishimoto, S.; Kafka, G.; Kaplan, D.M.; Karadzhov, Y.; Kim, Y.K.; Kuno, Y.; Kyberd, P.; Lagrange, J.-B.; Langlands, J.; Lau, W.; Leonova, M.; Li, D.; Lintern, A.; Littlefield, M.; Long, K.; Luo, T.; Macwaters, C.; Martlew, B.; Martyniak, J.; Mazza, R.; Middleton, S.; Moretti, A.; Moss, A.; Muir, A.; Mullacrane, I.; Nebrensky, J.J.; Neuffer, D.; Nichols, A.; Nicholson, R.; Nugent, J.C.; Oates, A.; Onel, Y.; Orestano, D.; Overton, E.; Owens, P.; Palladino, V.; Pasternak, J.; Pastore, F.; Pidcott, C.; Popovic, M.; Preece, R.; Prestemon, S.; Rajaram, D.; Ramberger, S.; Rayner, M.A.; Ricciardi, S.; Roberts, T.J.; Robinson, M.; Rogers, C.; Ronald, K.; Rubinov, P.; Rucinski, P.; Sakamato, H.; Sanders, D.A.; Santos, E.; Savidge, T.; Smith, P.J.; Snopok, P.; Soler, F.J.P.; Speirs, D.; Stanley, T.; Stokes, G.; Summers, D.J.; Tarrant, J.; Taylor, I.; Tortora, L.; Torun, Y.; Tsenov, R.; Tunnell, C.D.; Uchida, M.A.; Vankova-Kirilova, G.; Virostek, S.; Vretenar, M.; Warburton, P.; Watson, S.; White, C.; Whyte, C.G.; Wilson, A.; Winter, M.; Yang, X.; Young, A.; Zisman, M.

期刊名称Journal of Instrumentation
作者Adams, D.; Alekou, A.; Apollonio, M.; Asfandiyarov, R.; Barber, G.; Barclay, P.; de Bari, A.; Bayes, R.; Bayliss, V.; Bertoni, R.; Blackmore, V.J.; Blondel, A.; Blot, S.; Bogomilov, M.; Bonesini, M.; Booth, C.N.; Bowring, D.; Boyd, S.; Brashaw, T.W.; Bravar, U.; Bross, A.D.; Capponi, M.; Carlisle, T.; Cecchet, G.; Charnley, C.; Chignoli, F.; Cline, D.; Cobb, J.H.; Colling, G.; Collomb, N.; Coney, L.; Cooke, P.; Courthold, M.; Cremaldi, L.M.; DeMello, A.; Dick, A.; Dobbs, A.; Dornan, P.; Drews, M.; Drielsma, F.; Filthaut, F.; Fitzpatrick, T.; Franchini, P.; Francis, V.; Fry, L.; Gallagher, A.; Gamet, R.; Gardener, R.; Gourlay, S.; Grant, A.; Greis, J.R.; Griffiths, S.; Hanlet, P.; Hansen, O.M.; Hanson, G.G.; Hart, T.L.; Hartnett, T.; Hayler, T.; Heidt, C.; Hills, M.; Hodgson, P.; Hunt, C.; Iaciofano, A.; Ishimoto, S.; Kafka, G.; Kaplan, D.M.; Karadzhov, Y.; Kim, Y.K.; Kuno, Y.; Kyberd, P.; Lagrange, J.-B.; Langlands, J.; Lau, W.; Leonova, M.; Li, D.; Lintern, A.; Littlefield, M.; Long, K.; Luo, T.; Macwaters, C.; Martlew, B.; Martyniak, J.; Mazza, R.; Middleton, S.; Moretti, A.; Moss, A.; Muir, A.; Mullacrane, I.; Nebrensky, J.J.; Neuffer, D.; Nichols, A.; Nicholson, R.; Nugent, J.C.; Oates, A.; Onel, Y.; Orestano, D.; Overton, E.; Owens, P.; Palladino, V.; Pasternak, J.; Pastore, F.; Pidcott, C.; Popovic, M.; Preece, R.; Prestemon, S.; Rajaram, D.; Ramberger, S.; Rayner, M.A.; Ricciardi, S.; Roberts, T.J.; Robinson, M.; Rogers, C.; Ronald, K.; Rubinov, P.; Rucinski, P.; Sakamato, H.; Sanders, D.A.; Santos, E.; Savidge, T.; Smith, P.J.; Snopok, P.; Soler, F.J.P.; Speirs, D.; Stanley, T.; Stokes, G.; Summers, D.J.; Tarrant, J.; Taylor, I.; Tortora, L.; Torun, Y.; Tsenov, R.; Tunnell, C.D.; Uchida, M.A.; Vankova-Kirilova, G.; Virostek, S.; Vretenar, M.; Warburton, P.; Watson, S.; White, C.; Whyte, C.G.; Wilson, A.; Winter, M.; Yang, X.; Young, A.; Zisman, M.
卷第11卷
期第3期
电子ISSN1748-0221
文件大小814.08KB
发表时间2016-03-01
DOI10.1088/1748-0221/11/03/P03001

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Pion contamination in the MICE muon beam