Evidence of Silicon Band-Edge Emission Enhancement When Interfaced with SiO2:Er Films

• 期刊名称JOM
• 作者Abedrabbo, S.; Fiory, A. T.; Ravindra, N. M.
• 卷第69卷
• 期第2期
• 印刷ISSN1047-4838
• 电子ISSN1543-1851
• 文件大小1086.03KB
• 发表时间2017-2
• DOI10.1007/s11837-016-2207-4
• 页码241-246