发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Power-Aware Optimization of SoC Test Schedules Using Voltage and Frequency Scaling

Power-Aware Optimization of SoC Test Schedules Using Voltage and Frequency Scaling

Sheshadri, Vijay; Agrawal, Vishwani D.; Agrawal, Prathima

期刊名称Journal of Electronic Testing
作者Sheshadri, Vijay; Agrawal, Vishwani D.; Agrawal, Prathima
卷第33卷
期第2期
印刷ISSN0923-8174
电子ISSN1573-0727
文件大小1383.34KB
发表时间2017-4
DOI10.1007/s10836-017-5652-2
页码171-187

← 返回【学霸图书馆】主页