Antiferromagnetic inclusions in organic semiconductor (DOEO)4[HgBr4] · TCE
Koplak, O. V.; Dmitriev, A. I.; Morgunov, R. B.
- 期刊名称Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- 作者Koplak, O. V.; Dmitriev, A. I.; Morgunov, R. B.
- 卷第11卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1027-4510
- 电子ISSN1819-7094
- 文件大小1328.26KB
- 发表时间2017-1
- DOI10.1134/S1027451016050529
- 页码114-119