Semi-analytic off-axis X-ray source model

Shamshad, M.; Anjomrouz, M.; Smithies, D.J.; Largeau, A.; Lu, G.; Atharifard, A.; Broeke, L. Vanden; Aamir, R.; Panta, R.K.; Walsh, M.F.; Goulter, B.P.; Healy, J.L.; Bheesette, S.; Bell, S.T.; Bateman, C.J.; Butler, A.P.H.; Butler, P.H.

期刊名称Journal of Instrumentation
作者Shamshad, M.; Anjomrouz, M.; Smithies, D.J.; Largeau, A.; Lu, G.; Atharifard, A.; Broeke, L. Vanden; Aamir, R.; Panta, R.K.; Walsh, M.F.; Goulter, B.P.; Healy, J.L.; Bheesette, S.; Bell, S.T.; Bateman, C.J.; Butler, A.P.H.; Butler, P.H.
卷第12卷
期第10期
电子ISSN1748-0221
文件大小2896.84KB
发表时间2017-10-23
DOI10.1088/1748-0221/12/10/P10013

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Semi-analytic off-axis X-ray source model