Optimal and Robust Quantum Metrology Using Interaction-Based Readouts
Nolan, Samuel P.; Szigeti, Stuart S.; Haine, Simon A.
- 期刊名称Physical Review Letters
- 作者Nolan, Samuel P.; Szigeti, Stuart S.; Haine, Simon A.
- 卷第119卷
- 期第19期
- 印刷ISSN0031-9007
- 电子ISSN1079-7114
- 文件大小430.82KB
- 发表时间2017-11-6
- DOI10.1103/PhysRevLett.119.193601