[IEEE 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2018.12.1-2018.12.5)] 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - 3nm GAA Technology featuring Multi-Bridge-Channel FET for Low Power and High Performance Applications
Bae, Geumjong; Bae, D.-I.; Kang, M.; Hwang, S.M.; Kim, S.S.; Seo, B.; Kwon, T.Y.; Lee, T.J.; Moon, C.; Choi, Y.M.; Oikawa, K.; Masuoka, S.; Chun, K.Y.; Park, S.H.; Shin, H.J.; Kim, J.C.; Bhuwalka, K.K.; Kim, D.H.; Kim, W.J.; Yoo, J.; Jeon, H.Y.; Yang, M.S.; Chung, S.-J.; Kim, D.; Ham, B.H.; Park, K.J.; Kim, W.D.; Park, S.H.; Song, G.; Kim, Y.H.; Kang, M.S.; Hwang, K.H.; Park, C.-H.; Lee, J.-H.; Kim, D.-W.; Jung, S-M.; Kang, H.K.
- 作者Bae, Geumjong; Bae, D.-I.; Kang, M.; Hwang, S.M.; Kim, S.S.; Seo, B.; Kwon, T.Y.; Lee, T.J.; Moon, C.; Choi, Y.M.; Oikawa, K.; Masuoka, S.; Chun, K.Y.; Park, S.H.; Shin, H.J.; Kim, J.C.; Bhuwalka, K.K.; Kim, D.H.; Kim, W.J.; Yoo, J.; Jeon, H.Y.; Yang, M.S.; Chung, S.-J.; Kim, D.; Ham, B.H.; Park, K.J.; Kim, W.D.; Park, S.H.; Song, G.; Kim, Y.H.; Kang, M.S.; Hwang, K.H.; Park, C.-H.; Lee, J.-H.; Kim, D.-W.; Jung, S-M.; Kang, H.K.
- 文件大小488.24KB
- 发表时间2018
- DOI10.1109/IEDM.2018.8614629