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Reducing RF Distance Error by Characterizing Multipath

Whitney, Ann M.; Parker, Johne M.; Kratzer, Zachary C. N.; Fessler, John T.; Whitney, Julie G.

期刊名称IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
作者Whitney, Ann M.; Parker, Johne M.; Kratzer, Zachary C. N.; Fessler, John T.; Whitney, Julie G.
卷第68卷
期第9期
印刷ISSN0018-9456
电子ISSN1557-9662
文件大小1849.73KB
发表时间2019-9
DOI10.1109/TIM.2018.2875899
页码3329-3338