Alloys for Wide-Range Low-Temperature On-Chip Thermometry
Dann, J.R.A.; Verpoort, P.C.; Ferreira de Oliveira, J.; Rowley, S.E.; Datta, A.; Kar-Narayan, S.; Ford, C.J.B.; Conduit, G.J.; Narayan, V.
- 期刊名称Physical Review Applied
- 作者Dann, J.R.A.; Verpoort, P.C.; Ferreira de Oliveira, J.; Rowley, S.E.; Datta, A.; Kar-Narayan, S.; Ford, C.J.B.; Conduit, G.J.; Narayan, V.
- 卷第12卷
- 期第3期
- 电子ISSN2331-7019
- 文件大小655.33KB
- 发表时间2019-9-12
- DOI10.1103/PhysRevApplied.12.034024