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X-ray diffraction determination of stress in magnetron-sputtered Permalloy films

X-ray diffraction determination of stress in magnetron-sputtered Permalloy films

England, C. D.; Falco, C. M.; Aboaf, J. A.
  • 期刊名称Journal of Applied Physics
  • 作者England, C. D.; Falco, C. M.; Aboaf, J. A.
  • 卷第63卷
  • 期第8期
  • 印刷ISSN0021-8979
  • 文件大小591.75KB
  • 发表时间1988
  • DOI10.1063/1.340850
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