Modeling for stuck faults in cmos non-threshold logic (NTL) combinational circuits

• 作者Asad A. Ismaeel; Rakesh Bhatnagar
• 卷第35卷
• 期第4期
• 印刷ISSN0026-2714
• 文件大小529.71KB
• 发表时间1995
• DOI10.1016/0026-2714(95)93178-d
• 页码669-681