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How ATE planning affects LSI manufacturing cost

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Nakamae, K.; Sakamoto, H.; Fujioka, H.
  • 期刊名称IEEE Design & Test of Computers
  • 作者Nakamae, K.; Sakamoto, H.; Fujioka, H.
  • 卷第13卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0740-7475
  • 文件大小799.87KB
  • 发表时间1996-24
  • DOI10.1109/54.544538
  • 页码66-73
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