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SRAM transparent testing methodology using dynamic power supply current

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Kim, H.-S.; Yoon, D.-H.; Kang, S.
  • 作者Kim, H.-S.; Yoon, D.-H.; Kang, S.
  • 卷第148卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN1350-2409
  • 文件大小568.44KB
  • 发表时间2001
  • DOI10.1049/ip-cds:20010337
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