The Effect of Gate Metal Interdiffusion on Reliability Performance in GaAs PHEMTs
Y. Chou; D. Leung; R. Grundbacher; R. Lai; P. Liu; Q. Kan; M. Biedenbender; D. Eng; A. Oki
- 作者Y. Chou; D. Leung; R. Grundbacher; R. Lai; P. Liu; Q. Kan; M. Biedenbender; D. Eng; A. Oki
- 卷第25卷
- 期第6期
- 文件大小143.52KB
- 发表时间2004
- DOI10.1109/LED.2004.828989
- 页码351-353