The need for culture sensitive diagnostic procedures
Tekleh Zandi; Johan M. Havenaar; Annechien G. Limburg-Okken; Hans van Es; Salah Sidali; Nadia Kadri; Wim van den Brink; Rene S. Kahn
- 作者Tekleh Zandi; Johan M. Havenaar; Annechien G. Limburg-Okken; Hans van Es; Salah Sidali; Nadia Kadri; Wim van den Brink; Rene S. Kahn
- 卷第43卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0933-7954
- 电子ISSN1433-9285
- 文件大小169.82KB
- 发表时间2008-03
- DOI10.1007/s00127-007-0290-0
- 页码244-250