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X-ray Diffraction Based Residual Stress Measurements for

Baldev Raj; T. Jayakumar; S. Mahadevan; Sanjay K. Rai

作者Baldev Raj; T. Jayakumar; S. Mahadevan; Sanjay K. Rai
卷第28卷
印刷ISSN0195-9298
电子ISSN1573-4862
文件大小406.46KB
发表时间2009-12
DOI10.1007/s10921-009-0058-4
页码157-162

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